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設備について

社内設備紹介

マイクロスコープ

マイクロスコープ

製品破損の原因は非常に多岐にわたりますが、その調査は製品に残った痕跡などを詳細に観察する事から始まります。その痕跡は時に非常に微細であり、肉眼やルーペで捉えきれない場合もございました。
栃木屋では10年来、マイクロスコープを活用し、詳細な観察、調査と現品画像を以て、顧客様の調査依頼に応えております。

試験設備紹介

荷重試験(精密万能試験機)

荷重試験(精密万能試験機)

機構部品が受ける荷重は、そのメカニズムによって複雑に作用し、材料の強度だけでは一律に評価できません。設計の妥当性を確認するためには、金属筐体(ボックス)などに実装した状態を想定し、専用治具により、実際に負荷をかけて評価することが必要になります。精密万能試験機では、引張試験・圧縮試験・曲げ試験などを実施した上で適切な安全率を採用し、カタログ表記しています。また、栃木屋の施錠装置(盤用ハンドル)は「キュービクル式高圧受電設備推奨の手引(一般社団法人日本電気協会)」に定められた「扉の施錠装置」の基準に沿って、評価を実施しています。

3次元形状測定(3次元測定器)

3次元形状測定(3次元測定器)

ますます多様化する機構部品では、構成要素部品の点数も多く、決められたスペースの中に収めなければなりません。そのため、構成要素部品の精密化により、微妙な相互干渉を回避する必要性もあります。3次元測定器では、構成要素部品の形状測定・表面粗さ測定・3D測定などを実施し、品質を確認しています。

発塵量測定(クリーンブース・パーティクルカウンタ)

発塵量測定(クリーンブース・パーティクルカウンタ)

半導体(集積回路)は、パソコン・携帯電話・デジカメ・テレビ・電子プレーヤー・ゲーム機・カーナビなど、身の回りのあらゆる製品に使用されています。年々高まっていく半導体の集積度(高機能化・小型化)と共に、半導体を製造する装置は、微細なゴミ(発塵)をいかに排除したクリーンな環境下で作るかという課題に直面しました。栃木屋では半導体製造装置に使用される蝶番・キャスターなどの発塵量にいち早く注目し、低発塵機構部品の開発に着手しました。クリーンブースは、クラス100の清浄度(米国連邦規格)の管理下で、発塵量を測定しています。

耐食性試験(塩水噴霧試験機)

耐食性試験(塩水噴霧試験機)

海岸線に近い場所に設置されるキュービクル式高圧受電設備や配電盤・分電盤などについては、潮風が施錠装置に吹きつけられ、ハンドル部分に付着します。その結果、ハンドル等に施されたメッキだけでは腐食が進行し、最後 には施錠装置の作動が悪くなる原因にもなります。 栃木屋の施錠装置(盤用ハンドル)を始め、屋外で使用される部品では、耐食性の評価を実施しています。

化学物質測定(蛍光X線分析装置)

化学物質測定(蛍光X線分析装置)

世界的に地球環境の保全が叫ばれる中で、RoHS指令に代表されるような化学物質管理に対する取組みがメーカーの責務となって参りました。栃木屋は機構部品・機械部品業界でいち早く化学物質管理に乗り出し、サプライヤー様のご協力とご理解を得ながら推進してきました。化学物質測定では、受入検査の段階において、製品の有害物質の含有量を検出し、閾値内にあることを確認しています。